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E+H雷達型物位計FMR250微波物位測量計

固體連續(xù)非接觸式的物位測量，4...20mA兩線制技術(shù)
應(yīng)用
此Micropilot M型雷達特別適用于對粉狀和粒狀的固體進行連續(xù)，非接觸的物位測量。另外它也可用于液體測量。測量不受粉塵，進料噪聲，溫度分層和氣體分層的影響
·         在粉塵嚴重的高的固體料倉（如水泥，生料或動物飼料）中的物位測量。
·         可應(yīng)用于高溫達200℃（392℉）的場合，如水泥熟料或飛灰。
·         應(yīng)用于具強研磨作用的固體塊料，如鐵氧體。
直徑為DN200的拋物面天線的波束角只有4°，因此適用于有很多障礙物的工況或測量距離大于30m（100ft）的場合
直徑為DN80或DN100的喇叭天線適用于小尺寸的安裝短管。
性能和優(yōu)點
·         兩線制技術(shù)，低成本
·         兩線制技術(shù)降低布線成本，易實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的兼容
·         非接觸測量：
·         不受介質(zhì)特性的影響
·         通過數(shù)文顯示菜單輕松進行現(xiàn)場操作
·         通過操作軟件（ToFTool）實現(xiàn)簡便的組態(tài)、文件編制及診斷功能
·         標準的空氣吹洗接口用于粉塵嚴重或易粘附的介質(zhì)
·         適用的過程溫度zui高達200°C（392℉）
·         HART通信協(xié)議
·         可選擇分體遠程顯示

E+H雷達型物位計FMR250微波物位測量計
E+H CLM253-ID0010
E+H CUS31-A2A
E+H CPA450-1F116
E+H CPS11-2BA2ESA
E+H CPM253-PR0005
E+H CPM253-PR8105
E+H CPS11-2AA2ESA
E+H CPM253-PR0105
E+H CPM253-MR0115
E+H CPS11D-7AA21
E+H CPA250-A00
E+H CYK10-A0101
E+H CPS11D-7AA21
E+H CYK10-A031
E+H CPM253-MR0005
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